奧林巴斯激光共聚焦顯微鏡OLS5100，能夠通過非接觸、非破壞的觀察方式輕松實(shí)現(xiàn) 3D 觀察和測(cè)量。僅需按下“Start（開始）"按鈕，用戶就能在亞微米級(jí)進(jìn)行精細(xì)的形貌測(cè)量。該產(chǎn)品不僅易于使用，更具備功能，能夠提供四倍于上一代型號(hào)的采集速度。對(duì)于需要觀察大型樣品的客戶，LEXT 的長(zhǎng)工作距離物鏡和選配的擴(kuò)展機(jī)架使得系統(tǒng)能夠適用于為 210mm 的樣本。

奧林巴斯激光共聚焦顯微鏡OLS5100技術(shù)規(guī)格

激光共聚焦顯微鏡OLS5100可觀察納米范圍的臺(tái)階，并可測(cè)量亞微米級(jí)別的高度差。還可以測(cè)量從線到面的表面粗糙度。配備的兩套光學(xué)系統(tǒng)（彩色成像光學(xué)系統(tǒng)和激光共焦光學(xué)系統(tǒng)）讓其能夠獲取彩色信息、高度信息和高分辨率圖像。

激光共聚焦顯微鏡OLS5100 有4大關(guān)鍵價(jià)值：

• 捕捉任意表面形狀。

• 快速獲得可靠數(shù)據(jù)。

• 使用簡(jiǎn)單 - 只需放置樣品并按一下按鈕即可。

• 測(cè)量具有挑戰(zhàn)性的樣品。

價(jià)值1：捕捉任意表面形狀。

OLS5100顯微鏡的技術(shù)使其能夠進(jìn)行高分辨率的3D樣品測(cè)量。

價(jià)值2、快速獲得可靠數(shù)據(jù)

該顯微鏡的掃描算法既可提高數(shù)據(jù)質(zhì)量又可提高速度，從而縮短您的掃描時(shí)間，簡(jiǎn)化您的工作流程，最終實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)力的提升。

價(jià)值3、使用簡(jiǎn)單，只需放置樣品并按一下按鈕即可

LEXT® OLS5100顯微鏡具有自動(dòng)數(shù)據(jù)采集功能，因而無需進(jìn)行復(fù)雜的設(shè)置調(diào)整。 甚至生疏的用戶也可以獲得準(zhǔn)確的檢測(cè)結(jié)果。

價(jià)值4、可測(cè)量具有挑戰(zhàn)性的樣品

低輸出、非接觸式無損激光測(cè)量意味著不需要樣品制備。可以在不損壞易損性材料的情況下對(duì)其進(jìn)行測(cè)量。擴(kuò)展架可容納高達(dá)210毫米的樣品，而超長(zhǎng)工作距離物鏡能夠測(cè)量深度可達(dá)25毫米的凹坑。在測(cè)量這兩類樣品時(shí)，您只需將樣品放在載物臺(tái)上即可。

激光共聚焦顯微鏡OLS5100獲取彩色信息
彩色成像光學(xué)系統(tǒng)使用利用白光LED光源和CMOS相機(jī)獲取彩色信息。
[獲取3D 高度信息和高分辨率共焦圖像]
激光共焦光學(xué)系統(tǒng)采用405納米激光二極管光源和高靈敏度光電倍增管獲得共焦圖像。淺焦深使其能夠用于測(cè)量樣品的表面不規(guī)則性。

激光共聚焦顯微鏡OLS5100 405納米激光光源

光學(xué)顯微鏡的橫向分辨率隨著波長(zhǎng)的減小而獲得提升。采用短波長(zhǎng)激光的激光顯微鏡相比采用可見光（峰值550納米）的傳統(tǒng)顯微鏡具有更優(yōu)的橫向分辨率。 OLS5100顯微鏡利用405納米短波長(zhǎng)激光二極管獲得的橫向分辨率。

激光共聚焦顯微鏡OLS5100激光共焦光學(xué)系統(tǒng)

激光共焦光學(xué)系統(tǒng)僅接收通過圓形針孔聚焦的光線，并非采集從樣品上反射和散射的所有光線。這樣有助于消除模糊，讓其能夠獲得比普通顯微鏡對(duì)比度更高的圖像

激光共聚焦顯微鏡OLS5100 X-Y掃描儀

OLS5100顯微鏡配有奧林巴斯光學(xué)掃描儀。通過將采用電磁感應(yīng)MEMS諧振掃描儀的X軸與采用Galvano掃描振鏡的Y軸相結(jié)合，能夠讓X-Y掃描儀定位于相對(duì)物鏡瞳鏡共軛的位置，因而能夠?qū)崿F(xiàn)具有較低掃描軌跡失真和較小光學(xué)像差的X-Y掃描。

激光共聚焦顯微鏡OLS5100高度測(cè)量原理

在測(cè)量高度時(shí)，顯微鏡通過自動(dòng)移動(dòng)焦點(diǎn)位置獲取多個(gè)共焦圖像。
根據(jù)非連續(xù)的焦點(diǎn)位置（Z）和檢測(cè)光強(qiáng)度（I）可以估算每個(gè)像素的光強(qiáng)變化曲線（I-Z曲線），并獲得其峰值位置和峰值強(qiáng)度。由于所有像素的峰值位置與樣品表面的不規(guī)則性相對(duì)應(yīng)，因此可以獲得樣品表面的3D形狀信息。與此類似，通過峰值強(qiáng)度數(shù)據(jù)可以獲得針對(duì)樣品表面所有位置焦點(diǎn)的圖像（擴(kuò)展圖像）。